Die elektronische und geometrische Struktur von Schichten ungesättigter Kohlenwasserstoffketten

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DC ElementWertSprache
dc.contributor.advisorapl. Prof. Dr. M. Neumann
dc.creatorSchürmann, Helmut
dc.date.accessioned2010-01-30T14:34:55Z
dc.date.available2010-01-30T14:34:55Z
dc.date.issued2000-11-01T13:08:31Z
dc.date.submitted2000-11-01T13:08:31Z
dc.identifier.urihttps://repositorium.ub.uni-osnabrueck.de/handle/urn:nbn:de:gbv:700-2000110113-
dc.description.abstractUngesättigte Kohlenwasserstoffketten wie Poly(para)-Phenyl stellen eine Gruppe interessanter Materialien für das sich schnell entwickelnde Gebiet der Organischen Leuchtdioden (OLEDs) dar. Entsprechende Materialien sollten sich durch schwach gebundene Pi-Elektronen auszeichnen. Poly(para)-Phenyl erfüllt diese Bedingung, seine Modellpolymerepara-Hexaphenyl und para-Quaterphenyl ebenso.In der vorliegenden Arbeit werden photoelektronenspektros-kopische Messungen an diesen Materialien vorgestellt, wobeiBenzoesäure und Oligomere der Länge 2,3,4,6 untersuchtwurden. Es wird gezeigt, dass sich die Bandstruktur der unendlich langen Poly(para)-Phenyl-Kette auch anhand seiner kürzeren Oligomere mit bis zu sechs Wiederholeinheiten ermitteln lässt und mit entsprechenden theoretischen Berechnungen gut übereinstimmt. Hierzu wurdenorientierte dünne Schichten der Oligomere para-Hexaphenyl im Ultrahochvakuum hergestellt und anschließend mittels winkelaufgelöster Photoelektronenspektroskopie (ARUPS) am Berliner Speicher-Synchrotron BESSY I vermessen. Die Orientierung der dünnen Filme wird anhand der aus den Symmetrieüberlegungen entwickelten Auswahlregeln aus dem Vergleich der winkelaufgelösten Spektren nachgewiesen und durch AFM-Messungen (Atomic Force Microscopy) bestätigt. Entsprechende Untersuchungen an SAM-Schichten (Self Assembled Monolayer) aus Biphenylthiol und para-Terphenylthiol werden vorgestellt. XPS-Messungen (X-ray Photoelectron Spectroscopy) an den orientierten para-Hexaphenyl-Proben werden mit der aus den Bandstruktur-Rechnungen gewonnenen Zustandsdichteund UPS-Messungen verglichen. Aus den XPS-Messungen an den para-Hexaphenyl- und para-Quaterphenyl-Proben werden durch Auswertung der Shake-up-Satellitenstruktur der C1s-Peaks die Bandlücken der Materialien bestimmt. Im Rahmen von Voruntersuchungen wurden strahleninduzierte Schäden an gesättigten Kohlenwasserstoffketten mittels XPS festgestellt, die aber bei den ungesättigten Kohlenwasserstoffketten nicht auftreten.ger
dc.language.isoger
dc.subjectPhotoelektronenspektroskopie
dc.subjectARUPS
dc.subjectXPS
dc.subjectOrientierte Schichten
dc.subjectUngesättigte Kohlenwasserstoffketten
dc.subjectBandstruktur
dc.subject.ddc530 - Physik
dc.titleDie elektronische und geometrische Struktur von Schichten ungesättigter Kohlenwasserstoffkettenger
dc.title.alternativeThe electronic and geometric structure of layers of unsaturated hydrocarbon chainseng
dc.typeDissertation oder Habilitation [doctoralThesis]-
thesis.locationOsnabrück-
thesis.institutionUniversität-
thesis.typeDissertation [thesis.doctoral]-
thesis.date2000-10-13T12:00:00Z-
elib.elibid72-
elib.marc.edtfangmeier-
elib.dct.accessRightsa-
elib.dct.created2000-10-17T22:29:34Z-
elib.dct.modified2000-11-01T13:08:31Z-
dc.contributor.refereeProf. Dr. E. Rühl
dc.subject.dnb29 - Physik, Astronomieger
dc.subject.pacs71.20eng
vCard.ORGFB4ger
Enthalten in den Sammlungen:FB04 - E-Dissertationen

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